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EOS TESTER
KAST
EOS测试仪
KT-200SG

EOS TESTER

本设备用于测试电气电子元器件、IC、成品及电子电路的EMI(电磁抗扰度)能力。
广泛应用于半导体、LCD、TFT等平板显示器件及其驱动电路、元器件、电源电路、PCB、通信设备的冲击耐受能力与损坏评估。
为满足上述测试需求,本设备可产生4至5种不同类型的冲击波形。

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产品规格
测试电压输出范围5 ~ 200 V 冲击
输出电压极性双极性(正极性、负极性)输出
波形1参照IEC 61000-4-5规定的组合波形 / a. 开路电压波形:1.2 / 50 ㎲ / b. 短路电流波形:8 / 20 ㎲(输出阻抗:2 Ω)
波形25/50 ㎲ 开路电压波形(输出阻抗:40 Ω)
波形310/100 ㎲ 开路电压波形(输出阻抗:40 Ω)
波形410/200 ㎲ 开路电压波形(输出阻抗:40 Ω)
自动/手动测试模式在自动测试模式下,利用间隔计时器和计数器,可按所需次数进行连续自动测试。
电源AC 220 V, 50 ~ 60 ㎐
功耗约80 W
外形尺寸宽420 × 高210 × 深580 (㎜)
重量约24 ㎏

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