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EOS TESTER
KAST
EOSテスター
KT-200SG

EOS TESTER

本装置は電気電子部品・IC・完成品・電子回路等のEMI(電磁イミュニティ)能力を試験するための装置です。
半導体・LCD・TFT等のフラットパネルディスプレイおよびその駆動回路・部品・電源回路・PCB・通信機器のインパルス耐性・破損の有無を確認するサージ試験に広く使用されています。
これらの試験のために、本装置では4~5種類の異なるインパルス波形を発生できるよう設計されています。

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製品仕様
試験電圧出力範囲5 ~ 200 V インパルス
出力電圧極性バイポーラ(正極性・負極性)出力
波形1IEC 61000-4-5規定を参照したコンビネーション波形 / a. 開放電圧波形:1.2 / 50 ㎲ / b. 短絡電流波形:8 / 20 ㎲(出力インピーダンス:2 Ω)
波形25/50 ㎲ 開放電圧波形(出力インピーダンス:40 Ω)
波形310/100 ㎲ 開放電圧波形(出力インピーダンス:40 Ω)
波形410/200 ㎲ 開放電圧波形(出力インピーダンス:40 Ω)
自動 / 手動テストモード自動試験モードでは、インターバルタイマーとカウンターを使用して、任意の回数の連続自動試験が行えます。
使用電源AC 220 V, 50 ~ 60 ㎐
消費電力約80 W
外形寸法幅420 × 高210 × 奥580 (㎜)
重量約24 ㎏

📁 関連資料

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KT-200SG MANUAL (Eng)
マニュアル · PDF · 873KB · 50回ダウンロード
📄
KT-200SG 사용자 매뉴얼
マニュアル · PDF · 909KB · 61回ダウンロード