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과도충격전압 시험기 : EOS tester (electric overvoltage stress tester)

 

  • EOS Tester
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  • Model : KT-200SG
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  • 본 기기는 전기전자부품, IC, 완성품, 또는 전자회로 등의 EMI(Electro Magnetic Immunity) 능력을 시험하기 위한 장비입니다.
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  • 본 장비는 최근 국내외의 반도체, LCD, TFT 등의 평면 Display 기구와 이를 Drive 하는 구동회로, 부품, 전원회로와 PCB, 통신장비 등의 Impulse 대응 내력, 파손여부 등을 알아보기 위한 Surge 시험용으로 많이 사용됩니다.

  • 이러한 시험을 위해 본 장비에서는 4 ~ 5가지 형태의 각기 다른 Impulse 파형을 발생하도록 제작되어 있습니다.
        * 본 장비의 규격
  • 시험전압 출력범위 : 5 ~ 200 V Impulse
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  • 출력전압극성 : 양극성(Positive, Negative) 출력
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  • 출력파형의 종류
    1.  
    2. IEC 61000-4-5 규정에 따른 Combination Waveform
      1.  
      2. 개방전압파형 : 1.2 / 50 ㎲
      3.  
      4. 단락전류파형 : 8 / 20 ㎲ (출력 Impedence : 2 Ω)
      5.  
    3. IEC 60950의 ITU-T, K 17 규정에 따른 10 / 700 ㎲ 파형 (출력 Impedence : 40 Ω)
    4.  
    5. IEC 60950의 ITU-T, K 21 규정에 따른 1.2 / 50㎲ 파형 (출력 Impedence : 40 Ω)
    6.  
    7. IEC 62305-4(IEC 61643-1)의 Direct Lightning Impulse Test 규정에 따른 10 / 350 ㎲ 전류출력파형
    8.  
    9. 기타 Option 에 따라 일본 JIS 규정에 따른 10 /200 ㎲, 또는 5 / 50 ㎲ 등의 출력파형을 추가할 수 있으며 대략 위의 4 ~ 5가지 다른 Impulse 출력파형으로 거의 모든 시험을 진행, 만족한 결과를 얻을 수 있습니다.
    10.  
  • Auto / Manual Test Mode

  • : 자동시험진행 모드에서 Interval Timer 와 Counter 를 이용, 원하는 횟수만큼의 연속자동시험을 할 수 있습니다.
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  • 사용전원 : AC 220 V, 50 ~ 60 ㎐
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  • 소비전력 : 약 80 W
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  • 외형 : 폭 420 × 높이 210 × 앞뒤 580 (㎜)
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  • 중량 : 약 24 ㎏
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  • 납품업체 : 삼성전자(천안, 탕정, 수원, 소주(중국)공장) / 미국 ATI(2006.12.01) / 제네스 / 마이크로칩 / 매그너칩 / 
                   LG 전자(평택, 구미공장) 등 다수
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  • 제품가격 :
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  • 아래 그림의 예는 본 장비에서 IEC 61000-4-5 에 따른 Combination Waveform 을 발생시켰을 때의 출력전압, 전류파형을 보여줍니다.
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